随着高科技的发展及市场需求，塑料薄膜或薄片的生产工艺水平也逐渐提高，其厚度尺寸与表面外观要求越来越高，品质控制也越来越严，其中涉及很多微观检测，使用目前常规的检测方法难以检测，从而也无法实现品质控制和质量改善。为了解决这个难题，我们引进了光学显微镜和超薄切片机对薄膜、薄片表/截面进行微观检测。 　　薄膜表/截面检测是利用光学显微镜对塑料薄膜、薄片的表面或横截面进行放大观察以及测量分析的一种手段。表/截面检测不但解决了薄膜、薄片的表面和截面结构、材质、厚度等无法直接测量分析的问题，还可以根据表/截面的检测分析结果，调整膜的生产工艺以提高产品质量及辅助新产品的开发。 　　一、光学显微镜和超